呼伦贝尔美国ILT SED005-UVF-A313 辐照计/照度计价格与型号参数
- 型号 类型 SED005-UVF-A313辐照计/照度计
- 制造商 品牌 美国ILT
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功能参数简介：International Light ILT2400辐照计及SED005/UVF/A313探头专门为提高UV LED曝光机测量系统精确度而设计，在UV固化作用光谱350~400nm区域提供更均匀的响应，辐照度测量范围0.05μW/cm2~800mW/cm2，可添加峰值波长的PIR校准过滤片，带美国NIST可溯源ISO17025认证校准报告。
SED005-UVF-A313 辐照计/照度计图片
美国ILT2400+SED005/UVF/A313辐照计UV LED曝光能量测量
美国ILT品牌为各种市场和应用提供高精度的光测量系统，包括照度计、辐照计、能量计，满足广泛的需求，解决光测量的固有困难。国际光学International Light测光表非常适合用作光度计photometers (勒克斯lux meters)、强度计intensity meters (坎德拉candela)、固化测量仪/辐照度计/光量计curing meters (剂量和曝光测量dose and exposure meters)、能量功率计power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)。
ILT UV固化测量辐照计ILT2400带NIST可溯源ISO17025认证校准的仪表和传感器，测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，以手持式的价格提供研究级的质量。
大多数UV紫外线探头过滤器具有钟形光谱曲线，峰值相当窄。为了提高UV LED测量系统的精确度，美国ILT公司将高度稳定的InGaAsp传感器与平坦的玻璃滤光片和石英漫射片相结合，在用于UV固化的关键区域提供更均匀的响应。ILT2400辐照计+SED005/UVF/A313探头组成的测量系统旨在简化对UV LED曝光机固化的校准测量，专有的传感器/滤波器/光学组件由美国ILT的工程团队设计，可提供350-400 nm波段近乎平坦的响应。这种平坦的一致的响应允许测量和比较各种紫外LED波长，而不需要修改读数以适应传感器灵敏度的变化。这个系统也可以用来测量传统的紫外线源。
美国International Light SED005/UVF/A313 UV-LED固化探头规格
应用：UV LED固化测量、传统紫外线固化能量辐照度
测量范围： 5e-8至8e-1 W / cm2（0.05μW/cm2 ~ 800mW/cm2）
光谱范围： 275-450nm （在UVLED主要作用波段350-400 nm具有平坦的响应曲线）
尺寸：直径29 x 42mm
订购部件号
ILT2400+SED005/UVF/A313（可选特定峰值波长的PIR校准，250-450nm /每1、2或5 nm的扫描校准也可用）
A313扩散器也可提供1、3、5和7毫米孔径，允许测量更小的区域，例如聚焦的光束，以便于区域测绘，并且还可以测量更高的强度。另有XSD005UVF薄型UV LED固化传感器，内置过滤器和光学元件，不能外部添加过滤片/光学交换元件，它的尺寸更小，为15 mm x 42 mm直径。ILT国际光学UV LED固化辐照计规格说明书http://www.testeb.com/download/201806/ILT2400_UVLED_SED005UVF.pdf
International Light国际光学UV固化测量辐照计型号参数表
| 辐照计探头测量系统 | 响应波长 | 辐照度范围 | 类型及应用 |
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ILT800 CureRight辐照计 ILT800-UVA：315-390 nm ILT800-BAV：275-475 nm ILT800-UV：250-400 nm ILT800-CUV：215-350 nm ILT800-UVF：平坦响应 360-400 nm Flat, (275-450nm) |
315-475 nm | 5e-3 ~ 40 W/cm2 | 扁平，UV固化，UV烤箱，传送带曝光辐射 |
| ILT2400, XSD340AT7 | 320-475 nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，405nm紫外线UV固化，3D打印机 |
| ILT2400, XSD340AT7, XIR395 | 395nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，UV固化等，校准于395nm |
| ILT5000, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 2.33e-8 ~ 2.33 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，宽带紫外线 |
| ILT2400, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 1e-7 ~ 1 W/cm² | 手持式，UV固化，宽带紫外线 |
| ILT5000, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-9 ~ 5 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，窄带335 |
| ILT2400, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-7 ~ 5 W/cm² | 手持式，UV固化，光辐射危害，窄带335 |
| ILT5000/SED270/QT | 215-350 nm | 1e-9 ~ 1 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，UV LED |
| ILT5000, SED033/B/QNDS2/W | 326-401 nm | 3e-8 ~ 20 W/cm² | 台式/实验室，UV固化，氙气闪光灯 |
| ILT5000, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 台式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SSD001A | 250-400 nm | 2.22e-7 ~ 0.9 W/cm² | 台式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400/SED270/QT | 215-350 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV-LED能量计 |
| ILT2400, SED005/UVF/A313辐照计 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV LED曝光辐照计 |
| ILT2400, XSD005UVF集成薄探头 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8W/cm2 | UVLED固化能量计，350-410nm平面响应 |
| ILT5000, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 3e-9 ~ 2 W/cm2 | 台式/实验室，UV固化，窄带335 |
| ILT2400, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，窄带335 |
| ILT2470XE UV Flash Meter | 215-350 nm | 7e-5 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，闪烁/脉冲或CW光源 |
美国ILT光探测器探头滤片/输入元件/校准项代码解析
A光刻胶过滤器：定制滤波器设计用于提供硅传感器的“A”响应（320-475 nm）
B光阻过滤器：滤波器旨在提供硅探测器的“B”响应（326-401 nm）
NS185窄带滤光片：紫外线，中心波长为185nm的干涉滤光片
NSXXX UV窄带滤光片：中心波长为XXX纳米的干涉滤光片，如NS254、NS313、NS335、NS365
QNDS1中性密度滤光片，10倍衰减；QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰减过滤片
WBSXXX宽带滤光片：中心波长为XXX纳米的玻璃过滤器，如WBS320、WBS350、WBS375，通常与SED005探头组合
TBLU：蓝色滤光片和危险过滤器，安装用于硅探测器；
UVF：平坦响应曲线探头，用于UV LED固化测量；
W扩撒器：用于ILT探测器的固体石英内半球扩散器，用于200-2100 nm的余弦响应
A313：扁平石英分散器，安装在A311空的过滤器环（高达4mm厚的过滤器）中
TD扩撒器：用于ILT探测器的圆顶式聚四氟乙烯扩散器，用于250-700 nm的光谱范围
AT衰减器帽：提供X10衰减，没有螺纹，滑到探测器的末端
QT：11mm特氟龙石英窗口扩散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser；
XIR校准选项：
X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)
At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, such as XIR395 for calibration at 395nm
