钦州美国ILT XRL140B 辐照计/照度计价格与型号参数
- 型号 类型 XRL140B辐照计/照度计
- 制造商 品牌 美国ILT
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功能参数简介:International Light ILT1400紫外线辐照计已停产升级为ILT2400型,原先配套用于紫外线杀菌、UV固化/光刻胶曝光测量的XRL140B、XSL140B、XRL340A等系列探头也一起停产,需要要购买新的测光表和光探测器替代。
[停产]美国万国光学ILT1400辐照计XRL140B与XRL340A探头
美国International Light ILT1400辐照计具有数据记录USB接口和薄膜键盘,提供最多种类光探测器探头,可满足不同光测量要求的应用,广泛应用于光阻剂/光刻胶、UV固化、LED测光、紫外线杀菌、UV危害检测、植物光生物学研究等。ILT1400测光表有两个型号,分别为ILT1400-BL背光灯型、ILT1400-A无背光屏幕型。
国际光学ILT1400紫外辐照计推出已有25年历史,在光测量应用上的可靠性和精确性已经得到了客户的广泛认可。2016年5月,International Light ILT1400停产升级为改进的ILT2400辐照计。ILT2400手持式测光表带触摸显示屏,可横向或纵向显示,可每100µs捕捉一个峰值,并仪每秒存储16个读数。它支持众多的光测量的应用,包括通用光测量、紫外线杀菌、太阳光辐射、UV固化/光刻胶、UV LED固化机曝光、3D打印、光辐射危害、光降解、植物研究等。
随着ILT1400能量辐射计的停产,原先用于配套的光探测器探头也一并废型升级,也就是现售的ILT探头已无法在旧款ILT1400主机上使用。由于市场前期常用XRL140B、XSL140B、XSD140B、XRL340A等探头与ILT1400主机配套,如果客户手中现有的SEL、XRL、XSL探头失准或仪器故障,需要选购新升级的ILT2400测光表及SED系列探头。SED connects to the ILT1700/ILT2400 and the SEL connects to ILT1400.
International Light国际光学停产产品
ILT400测光表(ILT2400替代),XRL、XSL系列探头(无替代,需按新款选型配套)
ILT490紫外辐照计(ILT800替代, 输送带式曝光机测量)、
ILT70系列辐射计、ILT900光谱仪、ILT801 8通道DAQ
IL390C、ILT393、IL290A、A803、A430光放大器、INS250、RPS380
停产废型的美国International Light ILT1400辐照计探头型号
光探测器型号 | 测量波长范围 | 尺寸及辐照度范围 |
SCL110/U, ILT1400 Illuminance Probe | 422-488 nm,450 nm peak | 5.8 mm2 active area |
SCL144/U, ILT1400 Bilirubin Phototherapy Probe | 360-525 nm,450 nm peak | 5.8 mm2 active area |
SCL145/U, ILT1400 Phototherapy Probe | 250-675 nm,610 nm peak | 50 mm2 active area |
SEL005/U, ILT1400 UV-Visible GaAsP Detector | 850-1700 nm,1455 nm peak | 7 mm2 active area |
SEL007/U, ILT1400 IR InGaAs Detector | 200-400 nm,270 nm peak | 0.08 mm2 detector |
SEL033/U, ILT1400 Broadband Silicon Detector | 250-650 nm | 162 mm x 42 mm |
SEL100/U, ILT1400 Broadband Silicon Detector 水下版SUD100/U or SUL100/U |
160-240 nm,185 nm peak | 50 mm2 active area |
SEL185/U, ILT1400 Gold Cathode Detector 水下版SUD185/U、SUL185/U |
160-320 nm,220 nm peak | 50 mm2 active area |
SSL001A/U, ILT1400 Super Slim UV Probe | 320-400 nm,365 nm peak | 33 mm2 silicon detector |
XRL050/U, ILT1400 Spot Cure Probe | 320-475 nm,410 nm peak | 33 mm2 silicon detector |
XRL140A/U, ILT1400 Photoresist Cell | 326-401 nm,365 nm peak | 33 mm2 silicon detector |
XRL140B/U, ILT1400 Photoresist Cell | 320-475 nm,410 nm peak | 33 mm2 silicon detector |
XRL340A/U, ILT1400 Attenuated Photoresist Probe | 326-401 nm,365 nm peak | 33 mm2 silicon detector |
XRL340B/U, ILT1400 Attenuated Photoresist Probe | 320-475 nm,410 nm peak | 33 mm2 silicon detector |
XRL140T254/U, ILT1400 Germicidal Probe | 360-370 nm,365 nm peak | 33 mm2 silicon detector |
XRL140T365Q2/U, ILT1400 NB 365 nm Probe |
Varies by filter selection 根据过滤片而定 |
33 mm2 silicon detector |
XRL140/U, ILT1400 | 根据过滤片而定 | 33 mm2 silicon detector |
SEL220/U, ILT1400 Solar Blind Detector | 185-320 nm,240 nm peak | 50 mm2 active area |
SEL240/U, ILT1400 Solar Blind Detector | 200-320 nm,flat | 0.076 mm2 active area |
SEL320/U, ILT1400 UV, Gallium Nitride Detector | 320-1100 nm,960 nm peak | Large 324 mm2 active area |
SEL324/U, ILT1400 Broadband Silicone Detector | 200-365 nm,flat | 0.076 mm2 active area |
SEL365/U, ILT1400A UV Gallium Nitride Detector | 200-4200 nm,flat > 700 nm | 4 mm2 thermopile detector |
SEL623/U, ILT1400 Thermopile Detector | 0.2-40 micron,flat > 1.0 micron | 4 mm2 thermopile detector |
SPL024F/U, ILT1400 Laser Power / Irradiance Probe | 400-700 nm,Photopic | 1.2 mm2 silicon detector |
SPL025Y/U, ILT1400 Contact Luminance Pen Probe | 260-400 nm,370 nm peak | 0.64 mm2 silicon detector |
老款ILT光探测器型号文档http://www.testeb.com/download/201711/International_Light_Detectors.pdf