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乌鲁木齐德国EPK EPK730 涂层测厚仪价格与型号参数

  • 型号 类型 EPK730涂层测厚仪
  • 制造商 品牌 德国EPK
  • PDF规格说明书 在线阅读下载
  • 功能参数简介:EPK MiniTest 730涂层测厚仪具有创新的SIDSP探头内部数字信号处理技术,提升了测量的精确性,测量范围最高达15mm,精度1μm或5μm,分辨率0.05μm、0.1μm、1μm,可以解决您所有涂层厚度问题。

  • EPK730 涂层测厚仪
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EPK730 涂层测厚仪图片

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德国EPK MiniTest 730涂镀层测厚仪

Elektrophysik德国EPK MiniTest 700系列涂层测厚仪可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下,您可以短时间测量大量数值,也可以只测量少数几个数值,但要求精度很高,您只需选择相应的模式就可以做到。EPK730涂镀层测厚仪创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性,测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用,操作方便不易出错。

 

MINITEST 700 系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的EPK 720涂层测厚仪;EPK 730测厚仪则是外置探头的;EPK740型号探头内置外置可换。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。

 

EPK MINITEST 700高端涂层测厚仪优势特点

SIDSP探头技术使测量不受干扰,测值更加精确

可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740 探头可由内置换为外置)

FN 探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误

温度补偿功能避免温度变化引起的错误

生产过程中50 点校准使仪器获得高精确度的特征曲线

大存储量,能存储10 或100 组多达100,000 个读数

读数和统计值能单独调出,超大背光显示屏,显示内容可180度旋转

EPK730涂层测厚仪菜单指引操作,25 种语言可选

带IrDA 接口,红外线传输数据到打印机和PC,可下载更新软件

 

MiniTest 700系列涂层测厚仪主机技术参数

主机型号 MiniTest 720涂层测厚仪 MiniTest 730测厚仪 MiniTest 740
探头类型 内置探头 外置探头 探头内置外置可换
数据记忆组数 10组 10组 100组
存储数据量 最多10,000个 最多10,000个 最多100,000个
统计值 读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)
校准模式 出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值
极限值监控 声、光报警提示超过极限
测量单位 μm、mm、cm;mils、inch、thou

 

EPK 700系列涂层测厚仪SIDSP探头型号规格表

探头特性 F1.5,N0.7,FN1.5 F2 F5,N2.5,FN5 F15
F型 N型 F型 F型 N型 F型
测量范围 0-1.5mm 0-0.7mm 0-2mm 0-5mm 0-2.5mm 0-15mm
使用范围 小工件,薄涂层
跟测量支架一起使用
粗糙表面 标准探头,使用广泛 厚涂层
测量原理 磁感应 电涡流 磁感应 磁感应 电涡流 磁感应
分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm
精确度 ±(1μm+0.75%读数) ±(1.5μm+0.75%读数) ±(5μm+0.75%读数)
重复性 ±(0.5μm+0.5%读数) ±(0.8μm+0.5%读数) ±(2.5μm+0.5%读数)
最小曲率半径(凸) 1.0mm 1.5mm 5mm
最小曲率半径(凹) 外置探头7.5mm,内置30mm 外置10mm,内置探头30mm 外置25mm,内置30mm
最小测量面积 Φ5mm Φ10mm Φ25mm
最小基体厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm
测量速度 连续模式下测量速度每秒20个读数,单值模式下最大测量速度每分钟70个
探头内部32位信号处理(SIDSP)

更多规格说明参考http://www.testeb.com/download/201603/EPK-720_MiniTest720_730_740.pdf

 

MiniTest 700系列涂层测厚仪标准配置

带塑料手提箱或防尘套,内含:

F1.5/ N0.7/ FN1.5探头用测量支架

MINITEST 720( 内置探头) 或MINITEST 730(外置探头)

或MINITEST740 主机(不含探头,有各种探头可选)

校准套装含校准片和零板

操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语、中文说明书、2节AA电池、携带软包

18823303057
nbinghong@testeb.com
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