张家口日置HIOKI IM3523 LCR电桥测试仪价格与型号参数
- 型号 类型 IM3523LCR电桥测试仪
- 制造商 品牌 日置HIOKI
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功能参数简介：日置HIOKI IM3523 LCR电桥测试仪测量频率40Hz~200kHz，可测量Z,Y,θ,DCR(DC电阻)等15种参数，速度高达2ms，基本精度±0.05%，提供多种SMD治具及RS-232C、GP-IB通讯接口可选择，应用于生产线和自动化测试。
IM3523 LCR电桥测试仪图片
日本HIOKI日置IM3523 LCR测试仪40Hz~200KHz频率2ms高速测量
HIOKI IM3523 LCR测试仪测量范围40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA，基本精度±0.05％，测量参数包括Z阻抗[Ω]、Y导纳[Ω]、θ相位角[°]、等效电阻及电感、X电抗[Ω]、G电导率[S]、B电纳[S]等，内置比较器和BIN功能，高速达2ms的快速测试时间。日置IM3523电桥测试仪是应用于生产线和自动化测试领域的理想选择，尺寸小巧与长方形小型测试仪尺寸相同，易于组装嵌入自动机和产线工程系统内部位置。测量结果或设置数据等可以直接通过面板上插入USB进行保存，EXT I/O接口能输出测量完成信号和判断结果信号，也能输入测量触发信号等来控制仪器，另有RS-232C、LAN、GP-IB通讯模块选件。为不同测试对象设计镊型探头、开尔文夹及多种SMD测试治具供客户选购。
使用日置IM3523 LCR测试仪的相位测量功能，可以瞬间检测出线圈的绕圈开始、绕圈结束的错误。而且，通过测量阻抗，可以检查触电、生产品和对比品的位置关系，这样能进行更加可靠的检查。HIOKI IM3523测试仪在LCR模式下，能够从测量项目中选择2个进行HI/IN/LO的判断。判断方法除了设置绝对值以外，还能设置%，Δ%。使用连续测量时，能够根据多个测量条件·测量项目判断。面板保存功能多样，最多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
日置HIOKI IM3523/IM3533 LCR METER测试仪技术参数
| 型号 | IM3523 LCR测试仪 | IM3533测试仪 | IM3533-01测试分析仪 |
| 测量模式 |
LCR模式： 单一条件测量 连续测量模式： 通过已保存的条件连续测量(2条) 用于电线零件、管脚元件和SMD元件 |
LCR模式： 单一条件测量 变压器测量模式： N匝数比, M漏感, ΔL电感差 连续测量模式： 通过保存的条件进行连续测量 LCR模式(最多60条) |
LCR模式：单一条件测量 变压器测量模式：N,M,ΔL 连续测量模式： 通过已保存的条件进行连续测量 LCR模式(最多60条) 分析模式(最多2条) 分析模式：用测量频率扫描 (测量点2~801, 常规扫频明细显示) |
| 测量参数 |
Z阻抗[Ω]、Y导纳[Ω]、θ相位角[°]、 Rs等效串联电阻=ESR[Ω]、 Rp并联等效电路的电阻[Ω]、DCR X电抗[Ω]、G电导率[S]、B电纳[S]、 Cs串联等效电路的静电容量[F]、 Cp并联等效电路的静电容量[F]、 Ls串联等效电路的电感[H]、 Lp并联等效电路的电感[H]、 D损失系数=tanδ、Q因素(Q=1/D） |
Z, Y, θ, Rs(ESR), Rp, DCR(直流电阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D(tanδ), Q, N匝数比, M漏感, ΔL电感差, T 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域， 及电容电感，电气化学 |
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| 量 程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程, (所有参数通过Z规定)，主机能保存32000组数据 | ||
| 显示范围 |
Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp ： ±(0.000000[单位]~9.999999G[单位])，Z和Y为绝对值显示 θ： ±(0.000°~999.999°)、D： ±(0.000000~9.999999)、Q： ±(0.00~99999.99)、Δ%： ±(0.0000%~999.9999%) |
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| 基本精度 | Z： ±0.05%rdg. θ： ±0.03° | ||
| 测量频率 | 40Hz~200kHz (1mHz~10Hz步进) | 1mHz~200kHz (1mHz~10Hz步进) | |
| 信号等级与阻抗 |
常规模式（输出阻抗100Ω）： V模式·CV模式： 5 mV~5 Vrms, 1mV rms步进 CC模式： 10 μA~50 mA rms,10μA rms步进 |
常规模式（输出阻抗100Ω）： V模式·CV模式：5mV~5Vrms, 1 mVrms步进 CC模式：10μA~50mArms, 10μArmsCC步进 低阻抗高精度模式（输出阻抗25Ω）： V模式·CV模式：5mV~2.5Vrms, 1m Vrms步进 CC模式：10μA~50mArms, 10μArms步进 |
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| 显 示 | 单色LCD | 彩色TFT5.7英寸，显示可设置ON/OFF | |
| 测量时间与速度 | 2ms(100kHz，FAST，显示OFF，代表值)，速度模式FAST/MED/SLOW/SLOW2 | ||
| DC偏压 测量 | - |
常规模式：-5.00V~5.00V (10mV步进) 低阻抗高精度模式：-2.50V~2.50V (10mV步进) |
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| BIN测量 | 主要参数10种，辅助参数1中，范围外 | 2个项目10种，范围外 | |
| 外部接口 |
EXT I/O、USB(Hi-Speed) 选件：RS-232C/GP-IB/ LAN(10BASE-T/100BASE-TX) 可选择安装其中一种 |
EXT I/O、USB(Hi-Speed)、USB存储 选件：RS-232C/GP-IB/LAN，可选择安装其中一种 |
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| 尺寸及重量与标准配置 |
[IM3523] 约260W×88H×203D mm,约2.4 kg [IM3533/IM3533-01] 约330W×119H×168D mm,约3.1 kg 标配：主机、电源线、说明书、CD-R(通讯说明书，软件) 需结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具 |
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IM3523测试仪规格说明书http://www.testeb.com/download/202002/HIOKI_IM3523_IM3533.pdf
HIOKI IM3523 LCR测试仪探头治具与通讯接口选件订货信息
日置IM3523、IM3533/IM3533-01：包含主机、电源线、使用说明书、CD-R(通讯说明书，样品软件)
测试治具、探头不是标配，请根据需要另外选购选件中的测试治具和探头
[选件——外接通讯模块]
Z3000 GP-IB接口、9151-02 GP-IB连接线
Z3001 RS-232C接口卡、Z3002 LAN接口
9268-10 DC偏置电压单元 直连型，40Hz～8MHz，最大施加电压DC±40V
9269-10 DC偏置电压单元 直连型，40Hz～2MHz，最大电流DC 2A、电压DC±40V
[用于引脚部件测试——测试治具、探头]
L2000 4端子探头：频率DC～8 MHz，可测量端子直径0.3mm～5 mm
9261-10测试治具：频率DC～8 MHz，可测量端子直径0.3mm～1.5mm
9140-10 4端子探头：主机直连型，DC～8 MHz，可测0.3mm～2 mm
[SMD测试治具]
IM9110：直连型，对应0201尺寸，用于侧面电极SMD，电极2端子结构DC～1MHz
IM9100：对应0402,0603,1005这3种尺寸，电极4端子结构可进行高精度测量，DC～8MHz
